СЧ ОКР «Разработка тестовых элементов и измерение электрофизических параметров слоев (Ga,Al)N на подложках SiC и слоев (Ga,Al)N с p-слоем на подложках Si» - Тендер №41750842

194021, УЛ. ПОЛИТЕХНИЧЕСКАЯ, Д. 26, ЛИТЕР З, КАБИНЕТ 608